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Surfix®E-FN

PHYNIX Surfix FN 涂层测厚仪

德国菲尼克斯PHYNIX Surfix FN 涂层测厚仪

德国菲尼克斯PHYNIX Surfix E-FN 涂层测厚仪 分体两用统计型

Surfix® E Family系列Surfix FN为两用统计型精密涂镀层膜厚仪,搭配FN1.5外置固定探头,测量范围1~1500μm,满足大多数涂镀层测量,测量精度±(1μm+1%测量值),分辨率达0.1μm。搭配红外接口便捷传输数据,主机防护等级IP52

应用领域

电镀

油漆

汽车工业

化学工业

航空航天

造船业

轮胎制造业

规格参数

测量原理

磁感应+电涡流

测量范围

0~1500μm

精度

± (1µm+1%测量值)

分辨率

0.1μm或<0.2%测量值

显示

背光,4为字母数字,高度10mm0.4英寸

校准方法

出厂校准,零点校准,薄膜校准
漂移功能:正负一个常数值

统计

测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值

数据存储

2*100个测量值

接口

红外/电线

工作温度

0~60℃

表面温度

-15~60℃

规格尺寸

137mm*66mm*23mm

探头规格

14mm*83mm

重量

205g,含探头和电池

防护等级

IP 52(防尘和滴水)

标准

DIN, ISO, ASTM, BS

极限值

凸面曲率半径最小

1.5mm

凹面曲率半径最小

5mm

最小的操作高度

115mm

最小的测量区域

5×5mm

最小的基材厚度 - F

0.2mm

最小的基材厚度 - N

50μm

 

 

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